Simulation eines lateral scannenden Weißlichtinterferometers

Aufgabenstellung:

Steigenden Anforderungen an die Oberflächenqualität von Consumer- und Industrieprodukten machen eine schnelle sowie genaue Messtechnik unverzichtbar. Die Weißlichtinterferometrie (WLI) hat sich hierbei als hochauflösende Messtechnik für optisch glatte Oberflächen etabliert. Die Vorteile der WLI können durch Anwenden der von Olszak entwickelten lateral scannenden WLI (LSWLI) auch für In-Prozess-Messungen nutzbar gemacht werden. Diese wurde bisher vorwiegend an planen Oberflächen eingesetzt.

Während sich das Messen mit LSWLI bei Objekten mit großen Krümmungsradien (>100 mm) nicht vom Messen planer Objekte unterscheidet, sind bei kleinen Krümmungsradien optische und geometrische Eigenheiten zu berücksichtigen. Das Verhalten der LSWLI beim Messen deutlich gekrümmter Oberflächen sowie die Grenzen des Verfahrens sind Gegenstand aktueller Forschung.

Im Rahmen eines Industrieprojektes zur Entwicklung eines LSWLI-Messsystems soll ergänzend zu Laborversuchen eine Simulation des Systems entwickelt werden. Es sollen künstliche LSWLI-Daten unterschiedlich geformter Objekte mit variierenden Aufnahmeparametern erzeugt und ausgewertet werden. Die gewonnenen Erkenntnisse werden im Laborversuch validiert.

Ihr Profil:

  • Student/Studentin der MINT-Fachrichtungen
  • Programmierkenntnisse sind von Vorteil
  • Kreativität und selbstständige Arbeitsweise

Kontakt

Gert Behrends
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Telefon: +49 (0)421 218 646 29

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